Phasics波前分析仪
法国Phasics公司自主研发的波前传感器是基于四波横向剪切干涉技术(4-Wave Lateral Shearing Interferometry) ，较传统的Shack-Hartmann技术具有独特的优势，具有高分辨率、消色差、高灵敏度、高动态范围、操作简便等特点，为波前测量与光束分析提供了全新的解决方案！其配套软件界面友好，可输出高分辨率相位图与光束强度分布图 。
Phasics雄厚的技术实力，能为客户提供各种自适应光学系统OASys(adaptive optics loops)的解决方案。根据客户需求，推荐使用合适的SID4波前传感器、可变形镜或液晶相位调制器、自适应光学系统软件等。
Phasics公司的所有产品都是建立于其波前测量专利技术之上，即四波横向剪切干涉技术（4-Wave Lateral Shearing Interferometry）。在改进型哈特曼掩模的基础之上，这种独特技术将超高分辨率和超大动态范围完美结合在了一起。任何应用下，其都能实现全面、简便、快速的测量。
SID4: 一款紧凑型的波前传感器
波长范围：350-1100nm
分辨率高（160x120）
消色差
测量稳定性高
对震动不敏感
操作简单，Firewire IEEE 1394
结构紧凑，体积小
可用笔记本电脑控制
SID4 HR:高分辨率波前传感器
波长范围：350-1100nm
高性能的相机，信噪比高
实时测量，立即给出整个物体表面的信息（120000个测量点）
曝光时间极短,保证动态物体测量
操作简单
SID4 UV-HR: 高分辨紫外波前传感器
高分辨率（250x250）
通光孔径大（8.0mmx8.0mm）
覆盖紫外光谱
灵敏度高（0.5um）
优化信噪比
SID4 NIR: 高分辨率红外波前传感器
SID4 NIR是一款覆盖近红外范围（1.5µm-1.6µm）的高分辨率波前传感器。
可用于光学测量，SID4 NIR是测量红外物体和红外透镜像差、PSF、MTF和焦距及表面质量的理想工具。
高分辨率（160x120）
绝对测量
快速测量
对振动不敏感
性价比高
SID4 DWIR: 高分辨、双波段红外波前传感器
PHASICS推出了业界第一款高分辨率双波段红外波前传感器(from 3 µm to 5 µm and from 8 µm to 14 µm)SID4 DWIR
光学测量：SID4 DWIR是测量红外物体特性（热成像和安全视觉）或红外透镜（CO2激光器）的理想工具，输出结果包括MTF，PSF，像差，表面质量和透镜焦距。
光束测量：（CO2激光器，红外OPO激光光源等等）SID4 DWIR提供详尽的光束特性参数：像差，M2，光强分布，光束特性等