全自动快速比表面及孔径分析仪(二氧化硅)

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2010-12-30 09:51:00
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全自动快速比表面及孔径分析仪(二氧化硅)性能简介:



测试方法: 静态容量法



特征简列:



◆ BET比表面、外比表面、孔容孔径、孔面积、微孔分析等完



备的数据报告;



◆ 具有国内领先独立的高精度饱和蒸汽压(P0)测试站;



◆ 具有精确的全自动液氮面伺服保持系统;



◆ 具有国内外领先的测试、脱气完毕自动恢复常压功能;



◆ 先进的智能自检流程,智能判断样品管是否安装,试管夹套



是否拧紧;



◆ 具有国内外领先的样品预处理普通模式和分子置换模式两种



模式;



◆ 精确的分压点控制机制,可按设定要求对重点孔径段进行精



细分析;



◆ 清晰形象的图形化控制界面,并可在界面上进行控制操作;



◆ 具有国内外领先的液氮杯防意外“安全下降”智能控制机制;



◆ 超强的稳定性,即使意外断电、断线,亦不会丢失当前数据



,且实验可恢复继续进行;



◆ 强大的实验报告数据库化管理功能;



◆ 全程自动化智能化运行,亲和的语音操作提示;



◆ 软件界面自定义风格转换;



全自动快速比表面及孔径分析仪(二氧化硅)理论与报告内容:







全自动快速比表面及孔径分析仪(二氧化硅)精度: 测试精度高、重现性好。



重复性误差小于±2%;



测试范围:比表面0.01m2/g以上,孔径0.35-400nm;样品类型:粉



末,颗粒,纤维及片状材料等可装入样品管的材料。



供应全自动快速比表面及孔径分析仪(二氧化硅)分析站数量:具有2个样品分



析站,1个P0测试站,2个样品脱气站;2个分析站具有独立的气路



与压力传感器,支持同时进行不同样品不



同过程的测试;



P0测试:具有独立的饱和蒸汽压(P0)测试站,保证分压测试的高



准确性;



供应全自动快速比表面及孔径分析仪(二氧化硅)样品预处理: 主机自带一体



式脱气装置,同时处理样品数量:2;两路脱气站具有独立温控,并



具有独立定时功能,可支持与测试同步进



行的不同温度与不同时间的样品脱气处理;



样品预处理模式:具有国内唯一的“普通加热抽真空分子扩散模式”



和“分子置换模式”两种可选功能;分子置换模式相对分子扩散模式



效率提高1倍以上,可节省一半以上



的预处理时间,解决以往静态法样品制备时间长的问题;



全自动快速比表面及孔径分析仪(二氧化硅)效率: 智能投气量控制,中小吸



附量样品2-3min/1个分压点,中大吸附量样品3-5min/1个

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