X850/850B X荧光光谱仪 RoHS&测厚
规 格： X850/850B
产品备注： 手动/电动/镀层测厚/RoHS/材料元素分析/镀液分析
产品类别： 化学元素分析类仪器
产 品 说 明
特点
·可同时检测RoHS、镀层测厚、镀液分析和元素分析
·XYZ三维移动样品台，镭射对焦，操作简单
·多种准直器和滤光机制可供选择
·光闸系统，防止X光泄漏，操作更安全
·人性化软件界面设计，易学易懂，更方便人员操作
·探测器采用先进的电制冷方式，无需液氮制冷，增加安全性
·无需复杂的前处理过程，可以原样放入，检测准确度和精密度高，检测限达到1PPM
元素含量
分析指标 分析范围：1PPM-99.99% 准确度：相对误差5%以内
精密度：相对标准差5%以内 检出限：1PPM 镀层厚度
检测指标 准确度：相对误差第一层5%，第二层10%以内
精密度：相对标准差5%以内 检出限：0.01μm
X光管 50W(4-50KV 0 -1.0mA)标配 测试软件 基本参数法
探测器 硅锂半导体探测器 定性功能 自动标示存在元素