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对二次元探测系统主要还是集中在选择测头上，下面了解一下在选用二次元测头时需要考虑到的以下几点：
1）在考虑成本但要求只测位置、尺寸等要素的情况下，可以采用接触式触发测头。触发测头体积较小，当测量空间狭窄时测头易于接近零件，在大量的几何量测量中，仅是对零件的尺寸及位置精度有要求时，接触式触发测量是非常合适的。
2）在对离散点进行测量及对形状和轮廓精度要求较高的情况下，可以选用扫描测头。扫描测头测点有更高的精度，对离散点测量是匀速或恒测力采点，扫描测量能高速的采集数据，这些数据不仅可以用来确定零件的尺寸及位置，更重要的是可以用众多的点来精确的描述形状、轮廓，由于零件形状直接影响零件的性能，所以扫描测头适用于对形状、轮廓有严格要求的零件，且扫描测头对离散点的测量也适用严格定位、定向测量。
3）对精度不高、容易变形的零件，或者要求很大量数据零件的测量，可以考虑选择非接触式测头，但在可以应用接触式测头的情况下，不要选择非接触式测头。非接触测头没有测量力，适于柔软物体；非接触式测头取样率高，由于受物体表面特性形状，粗糙度等的影响较大，示值误差比接触式测头要大。
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