惠普：HP4291B阻抗分析仪
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Agilent/HP4291B RF阻抗/材料分析仪为表面贴装元件和介电/磁性材料的高精度测量提供总体解
决方案。
描述 Agilent4291B射频阻抗/材料分析仪是针对表面封装元器件和介电/磁性材料的高精度测量
的完整解决方案。与反射测量技术不同，Agilent4291B使用直接的电流－电压测量技术，可在
广泛的阻抗范围内提供更精确的阻抗测量结果。
Agilent/HP4291B射频阻抗特点
•基本精度:±0.8%
•先进的校准和误差补偿技术
•四种元件用的测试夹具(被测件尺寸:0.5mm~20mm)
•在两上通道内独立选择参数
•直接读出介电常数,导磁率
•两种材料用的夹具(工作温度范围:-55℃~-200℃)
HP4291B•能进行多种分析(温度、科尔图、弛豫时间)
•多种扫描参数(频率、交流电平、直流偏置、温度)
Agilent/HP4291B还提供自动电平精度控制和用IBASIC程序功能监视测试信号；可在恒压或恒流下
测量器件。用可选的直流偏置(达40V和100mA)使测量偏置独立于阻抗特性。只要按一个按钮，
内装的等效电路分析功能就自动计算5种电路模型的电路常数值。
Agilent/HP4291B有2个测量通道；每一个通道都可设置为测量1个(即Z)或2个(即Z-theta)阻抗参
数。具有分割显示的彩色TFT可显示有效示踪和存储器示踪(保存在RAM中)。内部软盘驱动器以
LIF或MS-DOS格式保存程序和测试数据。有了内装IBASIC，您就能从Agilent 4291B直接控制恒
温箱或园片探测器这类外部测试设备，而不需要单独的仪器控制器。