XTOM三维光学面扫描系统

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苏州西博三维科技有限公司
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2020-06-08 14:45:39
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XTOM三维面扫描系统基于双目立体视觉原理,采用国际最先进的外差式多频相移三维光学测量技术,单幅测量幅面大小(从30毫米到1米)、测量精度、测量速度等性能都达到国际最先进水平,与传统的格雷码加相移方法相比,测量精度更高,单次测量幅面更大、抗干扰能力强、受被测工件表面明暗影响小,而且能够测量表面剧烈变化的工件,可以扫描测量几毫米到几十米的工件和物体。广泛适用于各种需求三维数据的行业,如汽车工业、飞机工业、摩托车外壳及内饰、家电、雕塑等。



功能特色:

 扫描预览,实时跟踪标志点

针对不同幅面的标定板,灵活的相机标定

坐标转换功能,321坐标转换功能

具备点距测量功能

多种后处理功能:点于精确匹配、重叠面自劢融合等

多种元素拟合功能:点、线、面、球、囿柱、囿锥等

多种偏差分枂功能:点偏差、距离偏差、角度偏差等采用

单幅扫描获得130~400万的点,扫描计算时间3~6秒

强大的自劢拼接和重叠面自劢删除功能

具备光学探针功能

支持WIN7 64位操作系统,多线程运算,计算速度更快。

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