牛津仪器铜箔测厚仪CMI95M

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2017-02-08 11:08:48
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铜箔测厚仪 - CMI95M



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铜箔测厚仪-CMI95M由工厂调校,不需要任何标准片。它使用方便,只需将产品独有的软探针放到铜箔的表面就可以看到关于铜箔厚度的指示。

可一秒之内测量铜箔厚度

避免高昂的回收再生的成本 - 快速精确地鉴定特定铜箔厚度

一款行业认可的坚固易用且价格合理的手持式测厚仪,通过厚度测量分拣铜箔薄片

非破坏性检测 - 新型CMI95M配有超软接触式探针,避免铜箔表面刮伤

经久耐用,操作简单

出厂前校准,无需标准片

低电量提醒

CE认证



牛津仪器测厚仪器部(OICM)作为牛津仪器分析仪器部的一个组成部分,提供全球范围内的支持和服务网络。和我们的所有产品一样,CM95在售前和售后都能够得到我们优质服务的保证。

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