雷达式物位测量仪表
VEGA物位雷达式PULS6系列
液体或固体介质，特别适用于高温、高压、真空、粉尘、
蒸汽及测量腐蚀性极强或混合度高的介质
VEGAPULS 61
配有塑封天线系统的雷达传感器，用于连续物位测量(K-频段)
特别适用于测量腐蚀性液体，或用于开口容器或渠道。
优势
- 探头材料: PVDF 或 PP
- 可以测量至距离天线下缘50mm的地方
- 测量精度 ±5 mm
- ECHOFOX-信号分析处理，采用先进的模糊逻辑
- 通过 PLICSCOM, HART-编程器或计算机调试
- 属于plics产品系列
测量范围 达 20 米
过程连接 G1 1/2A螺纹, 龙门框或法兰
过程温度 -40 ... 80°C
过程压力 -1 … +3 bar (-100 … +300 kPa)
测量精度 ±5 mm
发射频率 K-频段
VEGAPULS 62
配有喇叭口天线、抛物线天线或?"- 导波管天线的雷达传感器，用于连续物位测量(K-频段)
适用于存储容器或过程容器，可以在恶劣条件下测量几乎所有介质。
优势
- 非接触是测量，不受过程温度、过程压力和过程气体的限制
- 可以测量至距离天线下缘50mm的地方
- 测量精度 ±3 mm
- ECHOFOX-信号分析处理，采用先进的模糊逻辑
- 通过 PLICSCOM, HART-编程器或计算机调试
- 属于plics产品系列
测量范围 达 35 米
过程连接 螺纹或法兰
过程温度 -40 ... 200°C
过程压力 -1 … +40 bar (-100 … +4000 kPa)
测量精度 ±3 mm
发射频率 K-频段
VEGAPULS 63
配有塑封天线系统的雷达传感器，用于连续物位测量 (K-频段)
特别适用于测量腐蚀性强的介质，或用于卫生无菌要求高的环境。
优势
- 用于探测的材料只有一种
- 可以测量至距离天线下缘50mm的地方
- 测量精度 ±3 mm
- ECHOFOX-信号分析处理，采用先进的模糊逻辑
- 通过 PLICSCOM, HART-编程器或计算机调试
- 属于plics产品系列
测量范围 达 20 米
过程连接 法兰或卫生连接
过程温度 -200…150°C
过程压力 -1 … +16 bar (-100 … +1600 kPa)
测量精度 ±3 mm
发射频率 K-频段
VEGAPULS 65
配有棒式天线系统的雷达传感器，用于连续物位测量 (C-频段)
特别适用于小的过程连接，在较为简单的过程条件下测量腐蚀性液体。
优势
- 探头材料: PVDF 或 PTFE
- 可以测量至距离天线下缘100mm的地方
- 测量精度 ±10 mm
- ECHOFOX-信号分析处理，采用先进的模糊逻辑
- 通过 PLICSCOM, HART-编程器或计算机调试
- 属于plics产品系列
测量范围 达 35 米
过程连接 G1 1/2A