膜厚仪

CMI900

仪器介绍

CMI900X射线荧光镀层测厚仪，有着非破坏，非接触，多层合金测量，高生产力，高再现性等优点，在质量管理到不良品分析有着广泛的应用。用于电子元器件，半导体，PCB，汽车零部件，功能性电镀，装饰件，连接器等多个行业。

主要特点

样品种类：镀层、涂层、薄膜、液体(镀液中的元素含量)

可检测元素范围：Ti22 – U92

可同时测定5层/15种元素

精度高、稳定性好

强大的数据统计、处理功能

测量范围宽

NIST认证的标准片

全球服务及支持

联系人：单光辉