测厚仪/涂层测厚仪

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上海卯金刀电子科技有限公司
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发布时间
2013-08-14 15:47:00
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KD-CM涂层测厚仪说明

概述

本仪器采用磁性测厚方法,可无损伤地检测磁性金属基铁(如:铁、钢、合金和硬磁性钢等)上非磁性覆层的厚度(如:锌、铝、铬、铜、橡胶、油漆等)。本仪器广泛地应用于制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。是材料保护专业必备的仪器。



特点

便携设计,手掌大小

采用高速的DSP芯片,具有快速的测量能力

人性化设计,简单操作。

在双用探头时自动识别铁基和非铁基材质,无需手动转换

两种校准方式,零点校准和二点校准

宽角度LCD液晶显示

公制和英制单位转换

具有电源欠电压提示

操作过程有蜂鸣声提示

具有自动关机功能

测量原理

磁性法

当测头与覆层接触时,测头与磁性金属基体构成一闭合磁路,由于非磁性覆层的存在,使磁路磁阻发生变化,通过测量其变化量,可测得其覆层的厚度。



技术参数

测量范围:0-1250um

工作电源:两节五号电池

测量精度误差:零点校准 ±(1.5+3%H);二点校准±【(1%~3%H)】H+1.5

环境温度0-40℃

相对湿度≤85%

最小基体10*10mm

最小曲率凸5mm;凹5mm

最薄基体:0.4mm

重量:99克(含电池)

尺寸102mm*66mm*24mm



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