纳克 标准试样/块校准机构 标准试样/块校准

对比试样校准检测

可对管、板、缆索等大范围结构件进行12 kHz~250 kHz的宽频扫查，并可进行频扫图像显示、A扫信号显示和包络显示，可对A扫信号进行DAC(距离-波幅曲线)分析。 由于是在实验室进行对比试块的检测，标准试样/块校准，考虑到试块需加工内部球孔缺陷，标准试样/块校准公司，所以取管道原长度的1/2进行加工，由于无法采用传统线圈探头进行检测，所以采用板波探头进行检测，换能器的设计分为柔性和硬性两部分，其中硬性设计的主要功能是信号的输入输出、保护换能器、方便操作人员使用等;柔性部分的主要功能是激励和接收导波信号。

对比试样校准分类

1.超声波-在各种介质中的声速是不同的，但在同一介质中声速是一常数。超声波在介质中传播遇到第二种介质时会被反射，测量超声波脉冲从发射至接收的间隔时间，即可将这间隔时间换算成厚度。在电力工业中应用较广的就是这类测厚仪。常用于测定锅炉锅筒、受热面管子、管道等的厚度，也用于校核工件结构尺寸等。这类测厚仪多是携带式的，体积与小型半导体收音机相近，厚度值的显示多是数字式的。对于钢材，较大测定厚度达2000 mm左右，标准试样/块校准机构，精度在±0.01～±0.1 mm之间。

2.磁性-在测定各种导磁材料的磁阻时，测定值会因其表面非导磁覆盖层厚度的不同而发生变化。利用这种变化即可测知覆盖层厚度值。常用于测定铁磁金属表面上的喷铝层、塑料层、电镀层、磷化层、油漆层等的厚度。

对比试样校准测量方法

覆层厚度的测量方法主要有：楔切法，光截法，电解法，厚度差测量法，称重法，X射线荧光法，标准试样/块校准报价，β射线反向散射法，电容法、磁性测量法及涡流测量法等。这些方法中有五种是有损检测，测量手段繁琐，速度慢，多适用于抽样检验。 X射线和β射线法是无接触无损测量，但装置复杂昂贵，测量范围较小。因有射线源，使用者必须遵守射线防护规范。X射线法可测极薄镀层、双镀层、合金镀层。β射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层测量。电容法仅在薄导电体的绝缘覆层测厚时采用。

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