纳克无损公司 C扫描探伤 C扫描探伤

C扫描腐蚀成像检测可选择以下两种扫查器

1、R型扫查器：(1)单轴手动编码器，使用方便。(2 )扫查架轻便小巧，C扫描探伤，探头组合方便更换。(3)可测量缺陷的自身高度，实现缺陷的跟踪、 监控。2、半自动扫查器:(1)方便驱动双轴自动扫查器，进行一定区域内的半自动扫查。(2)了探头保持架可对曲面进行一定量的跟踪功能。(3)B-扫描和B-扫描可以提供C-扫描图像上任何位置正交两个断面的深度信息。相应的A-扫描也可以显示在同一屏幕上。(4)全波形记录功能，C扫描探伤厂家，可在生成的C-扫描图像上察看任意位置上的A-扫描波形。的检测方法，C扫描探伤价格，符合*新版的ASME规范要求。(5)定位定量准确。(6)B实时成像。(7)可实现任意一点的波形回放。

C扫描结构

超声波C扫描系统由机械传动机构，超声波C扫描控制器，超声波C扫描探伤仪PC微机系统四部分组成：

机械传动机构

机械传动机构是由导轨、导轨上支杆、步进电机组成。两根导轨分别代表纵轴、横轴，即X 、Y 轴。支杆的交汇处就是探头所在处。

超声波C 扫描控制器

超声波C 扫描控制器在扫查过程中由计算机控制。控制器控制着传动机构的运动。它有两种工作状态:手动和自动。手动用于探伤前调节探头初始位置。

超声波探伤仪

超声波探伤仪具有高频带，并能用尖脉冲激励高阻尼探头，以便获得窄脉冲，C扫描探伤多少钱，检测出工件中的微小缺陷。因为窄脉冲具有较高的距离分辨率也就是说声波的传播过程中遇到缺陷利用窄脉冲可以准确地定出缺陷所在的深度。

微机系统

计算机是整个超声C扫描成像系统数据分析、处理和控制的中心。显示器是一种图像数据的输出方式。一般要求有较高的分辨率，以获得高质量的图像。

C 扫描优势

优势一：“点聚焦探头”让超声能量高度集中，可以检测出更细微的缺陷

C扫描使用点聚焦探头，如图1点聚焦探头示意图，通过探头中的透镜，把一束超声波聚焦为1个点，能量高度集中，能发现更细微缺陷；

图2 是实测的点聚焦探头的声场图，检测时把板厚置于焦柱范围内即可，制作探头时焦柱长度可控制在5~50mm。

图1：点聚焦探头示意图

图2：点聚焦探头实测声场图

优势二：“密集的步距”保证了扫查的高度精细化

常规A扫探伤时，步距一般是探头晶片的尺寸，一般是10~20mm

但C扫描一般控制在0.1~3之间，当然步距太小会极大地降低检测效率。

比如：如果人工检测，用直径20mm的探头检测，100*100的区域一般观察25个点。C扫描选择1mm步距时，是记录了10000个点

25个点和10000个点相比，扫查的精细化显而易见

纳克无损公司(图)-C扫描探伤价格-C扫描探伤由钢研纳克检测技术股份有限公司提供。钢研纳克检测技术股份有限公司是北京 北京市 ,机械及工业制品项目合作的见证者，多年来，公司贯彻执行科学管理、创新发展、诚实守信的方针，满足客户需求。在北京纳克无损领导携全体员工热情欢迎各界人士垂询洽谈，共创北京纳克无损更加美好的未来。