荧光X线膜厚计

特点：

●中文视窗操作测量系统

●解析度0．001um， 最小测量面积0．1mmΦ

●可测量合金层之厚度和组成比例

●可测量两层以上镀层之个别厚度

●藉由光谱分析可判定被测物之元素

●适用对象：1C导线架、封装业、PCB业、精密零

●件业、电镀业、电子业。