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- 苏州英飞思科学仪器有限公司
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- 发布时间
- 2022-10-18 11:03:53
膜厚仪EDX-8000B型XRF镀层测厚仪
Simply The Best
gt;微光斑X 射线聚焦光学器件
通过将高亮度一次 X 射线照射到0.02mm的区域,实现高精度测量。
gt;硅漂移探测器 (SDD) 作为检测系统
高计数率硅漂移检测器可实现高精度测量。
gt;高分辨率样品观测系统
的点位测量功能有助于提高测量精度。
XRF金属镀层测厚仪产品特点
gt;测试快速,无需样品制备
gt;可通过内置高清CCD摄像机来观察及选择定位微小面积镀层厚度的测量,镀层测厚仪膜厚仪价格,避免直接接触,污染或破坏被测物
gt;备有多种以上的镀层厚度测量和成分分析时所需的标准样品
gt;可覆盖元素周期表Mg镁到U铀
gt;SDD检测器,具有高计数范围和出色的能量分辨率
gt;可切换准直器和滤光片
XRF金属镀层测厚仪应用场景
gt;EDX8000B镀层测厚仪可以用于PCB镀层厚度测量,PCB镀层分析,金属电镀镀层分析;
gt;测量的对象包括镀层、敷层、贴层、涂层、化学生成膜等
gt;可测量离子镀、电镀、蒸镀、等各种金属镀层的厚度