北京纳克无损 标准试样/块校准机构 标准试样/块校准

对比试样校准原理

1. 复型测量法 一种间接的测量方法，通过将可塑性材料充满在人工缺陷内，经过凝固成型后取出，直观、形象、逼 真地再现人工缺陷的立体形貌，取点、线、断面采用相应精度的量具对人工缺陷长度、宽度、深度测量，获 得人工缺陷的尺寸数据。

2. 显微测量法 直接通过读数显微镜对人工缺陷放大后，以光学成像或聚焦方法瞄准边缘轮廓或表面，通过X、Y、Z轴在缺陷上移动的距离直接测量人工槽的长度、宽度、深度及通孔的直径。

对比试样校准的测试条件

一. 基体表面曲率 在一个平直的对比试样上校准好一个初始值，然后在测量覆层厚度后减去这个初始值。 二.基体金属较小厚度 基体金属必须有一个给定的较小厚度，标准试样/块校准公司，使探头的电磁场能完全包容在基体金属中，标准试样/块校准报价，较小厚度与测量器的性能及金属基体的性质有关，在这个厚度之上刚好可以进行测量而不用对测量值修正。对于基体厚度不够而产生的影响，可以采取在基材下面紧贴一块相同材料的措施予以消除。如难以决断，标准试样/块校准机构，或无法加基材则可以通过与已知覆层厚度的试样进行对比来确定与额定值的差值。并且在测量中考虑这点而对测量值作相应的修正。而那些可以标定的仪器通过调整旋钮或按键，便可以得到准确的直读厚度值。

二. 如果探头与被测体边界、孔眼、空腔、其他截面变化处的间距小于规定的边界间距，由于磁通或涡流载体截面不够将导致测量误差。测量该点的覆层厚度，标准试样/块校准，需要在相同条件的无覆层表面进行预先校准后测量。

对比试样校准检测

可对管、板、缆索等大范围结构件进行12 kHz~250 kHz的宽频扫查，并可进行频扫图像显示、A扫信号显示和包络显示，可对A扫信号进行DAC(距离-波幅曲线)分析。 由于是在实验室进行对比试块的检测，考虑到试块需加工内部球孔缺陷，所以取管道原长度的1/2进行加工，由于无法采用传统线圈探头进行检测，所以采用板波探头进行检测，换能器的设计分为柔性和硬性两部分，其中硬性设计的主要功能是信号的输入输出、保护换能器、方便操作人员使用等;柔性部分的主要功能是激励和接收导波信号。

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