南阳EDX 8000B型XRF镀层测厚仪 英飞思科学

苏州英飞思科学仪器有限公司，EDX-8000B型XRF镀层测厚仪，英文名字：Efficiency Scientific Instrument Co.，Ltd.

公司logo和英文缩写为ESI。

英飞思ESI坐落于美丽而现代的苏州工业园。

XRF镀层测厚仪工作原理镀层测厚仪是将X射线照射在样品上，通过从样品上反射出来的第二次X射线的强度来测量镀层等金属薄膜的厚度，因为没有接触到样品且照射在样品上的X射线能量很低，所以不会对样品造成损坏。同时，测量的也可以在10秒-30秒内完成。

XRF金属镀层测厚仪产品特点

gt;测试快速，无需样品制备

gt;可通过内置高清CCD摄像机来观察及选择定位微小面积镀层厚度的测量，避免直接接触，污染或破坏被测物

gt;备有多种以上的镀层厚度测量和成分分析时所需的标准样品

gt;可覆盖元素周期表Mg镁到U铀

gt;SDD检测器，具有高计数范围和出色的能量分辨率

gt;可切换准直器和滤光片

XRF金属镀层测厚仪应用场景

gt;EDX8000B镀层测厚仪可以用于PCB镀层厚度测量，PCB镀层分析，金属电镀镀层分析；

gt;测量的对象包括镀层、敷层、贴层、涂层、化学生成膜等

gt;可测量离子镀、电镀、蒸镀、等各种金属镀层的厚度

英飞思XRF镀层测厚仪优势

gt;微光斑X 射线聚焦光学器件

通过将高亮度一次 X 射线照射到0.02mm的区域，实现高精度测量。

gt;硅漂移探测器 (SDD) 作为检测系统

高计数率硅漂移检测器可实现高精度测量。

gt;高分辨率样品观测系统

的点位测量功能有助于提高测量精度。

gt;全系列标配薄膜FP无标样分析法软件，可同时对多层镀层及全金镀层厚度和成分进行测量

配合用户友好的软件界面，可以轻松地进行日常测量。

南阳EDX-8000B型XRF镀层测厚仪-英飞思科学由苏州英飞思科学仪器有限公司提供。南阳EDX-8000B型XRF镀层测厚仪-英飞思科学是苏州英飞思科学仪器有限公司今年新升级推出的，以上图片仅供参考，请您拨打本页面或图片上的联系，索取联系人：张经理。