纳克 超声波C扫描探伤 超声波C扫描探伤

常规超声C扫描成像检测技术

当今，对腐蚀超声检测的显示，超声波C扫描探伤，正逐渐从“单点”的A型显示和“二维线性”的B型显示向“三维体性”的C型显示方式发展，缺陷显示更加真实完整，数据更加丰富。

超声C型扫描显示，简称C扫，即特定深度扫描模式，从显示方式看是二维平面显示，用平面上不同的颜色来反映波幅高度或不同的厚度信息。C扫的图像实际是由探头扫描路径的每一组B扫图像组合而成，因此C扫成像平面与B扫成像平面是互相垂直的。在C型扫描成像中，探头不但要沿x方向扫描，而且还要沿y方向扫描，即面扫描(二维扫描)，而不是线扫描(一维扫描)。为获得某一与声束轴线垂直的断面在z=z0的图像，超声波C扫描探伤哪家好，扫描声束应聚焦于该平面；改变扫描声束聚焦的平面，超声波C扫描探伤价格，即可获得物体不同深度的C扫截面图像。

C 扫描优势

优势一：“点聚焦探头”让超声能量高度集中，可以检测出更细微的缺陷

C扫描使用点聚焦探头，如图1点聚焦探头示意图，超声波C扫描探伤生产厂家，通过探头中的透镜，把一束超声波聚焦为1个点，能量高度集中，能发现更细微缺陷；

图2 是实测的点聚焦探头的声场图，检测时把板厚置于焦柱范围内即可，制作探头时焦柱长度可控制在5~50mm。

图1：点聚焦探头示意图

图2：点聚焦探头实测声场图

优势二：“密集的步距”保证了扫查的高度精细化

常规A扫探伤时，步距一般是探头晶片的尺寸，一般是10~20mm

但C扫描一般控制在0.1~3之间，当然步距太小会极大地降低检测效率。

比如：如果人工检测，用直径20mm的探头检测，100*100的区域一般观察25个点。C扫描选择1mm步距时，是记录了10000个点

25个点和10000个点相比，扫查的精细化显而易见

超声C扫描

超声C扫描是一种用于材料科学领域的物理性能测试仪器，于2014年03月01日启用。

超声波C扫描是面扫描，或水平投影，是一种二维图像，横、纵坐标都表示时间（或距离）。

超声波C扫描表示被检工件的投影面的状况，在投影面上绘出缺陷的水平投影位置，但不能给出缺陷的埋藏深度。

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