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- 2022-11-03 16:22:09
XRF-T6SDD是西凡仪器结合ROHS检测标准及客户需求，专门针对无卤、ROHS、EN71等环保指令自主研发设计的一款RoHS检测仪，该产品采用美国进口定制的Fast-SDD探测器，大大提高了检测范围及精度，无需标样，无损，快速的检测Pb、Hg、Cd、Cr(VI)、CL、Br、PBB、PBDE等有害重金属物质，检测速度快，测试稳定性好、准确性高。
XRF分析是一项成熟的技术，利用初级X射线光子或其他微观离子激发待测物质中的原子，使之产生荧光（次级X射线）而进行物质成分分析和化学态研究的方法。用于在整个行业范围内验证成分，是一种快速的、非破坏式的物质测量方法。在测定电子电器产品中是否存在限用物质时，一般采用XRF进行初筛。其基本的无损性质，加上快速测量和结构紧凑的台式仪器等优点，能实现现场分析并立即得到结果。
X射线是一种具有较短波长的高能电子波，由于内层轨道电子跃迁或高能电子减速产生，X射线的波长范围为0.01-10nm。介于紫外线和γ射线之间，并具有部分重叠峰。
X射线与可见光相比，除了具有波粒二象性的共同性质之外，还因其波长短、能量大而显示其特性：
1、穿透能力强；
2、折射率几乎等于1；
3、透过晶体时发生衍射。
作为一种比较分析技术，在一定的条件下，利用初级X射线光子或其他微观粒子激发待测物质中的原子，使之产生荧光（次级X射线）而进行物质成分分析的仪器。
按激发、色散和探测方法的不同，rohs检测仪，分为：
X射线光谱法（波长色散）
X射线能谱法（能量色散
x射线荧光光谱仪的优点：
1、分析速度高。测定用的时间与测定精密度有关，但一般都很短，2～5分钟就可以测完样品中的全部待测元素。
2、X射线荧光光谱跟样品的化学结合状态无关，而且跟固体、粉末、液体及晶质、非晶质等物质的状态也基本上没有关系。大多数分析元素均可用其进行分析，可分析固体、粉末、熔珠、液体等样品，分析范围为Be到U。（气体密封在容器内也可分析）但是在高分辨率的精密测定中却可看到有波长变化等现象。特别是在X射线范围内，这种效应更为显著。波长变化用于化的测定。
3、非破坏分析。在测定中不会引起化学状态的改变，也不会出现试样飞散现象。同一试样可反复多次测量，结果重现性好。 4、X射线荧光分析是一种物理分析方法，所以对在化学性质上属同一族的元素也能进行分析。
5、分析精密度高。
6、制样简单，固体、粉末、液体样品等都可以进行分析。
XRF-T6SDD是西凡仪器结合ROHS检测标准及客户需求，专门针对无卤、ROHS、EN71等环保指令自主研发设计的一款RoHS检测仪，该产品采用美国进口定制的Fast-SDD探测器，大大提高了检测范围及精度，无需标样，无损，快速的检测Pb、Hg、Cd、Cr(VI)、CL、Br、PBB、PBDE等有害重金属物质，rohs检测仪价格，检测速度快，测试稳定性好、准确性高。
XF-AL产品主要应用用纸张或薄膜硅油涂布层厚度重量的测试仪器。满足于产品质量控制，产品采用先进的SDD 探测器，分析范围广，样品无需做任何复杂的处理，便捷快速测试，rohs检测仪，仪器检出限能够达到0.01g/cm2，配置全功能的神经网络计算功能，ARM微电脑处理，便捷的预变成仪器参数，具有自定义开发方法功能。
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