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- 2022-11-12 15:51:31
c扫描原理主要应用范围
· 晶元面处脱层 · 锡球、晶元、或填胶中之裂缝 · 晶元倾斜 · 各种可能之孔洞(晶元接合面、锡球、填胶…等) · 覆晶构装之分析 德国KSI声扫描显微镜C-SAM(SAT)世界先进的机器 WINSAM Vario III 声扫描显微镜 1~500MHz ● 非破坏性材料内部结构测试 ● 快速的超声波频率设置 ● 全新的操作软件简单易用 ● 紧凑的模块化设计 ● 广泛应用于半导体工业,材料测试,生命科学等领域 非破坏性失效分析: 视觉效果 定量分析 自动控制 -3D形貌再现 -同时观察多个层面 -显示样品的机械性能(硬度,密度,旋转C扫描,压力等) -实时超声波飞时图表(A-Scan) -纵向截面图像(B-Scan) -XY图像(C-Scan, D-Scan, 自动扫描,旋转C扫描哪家好, 多层扫描) -第二个监视器便于图像的观察和操作 -失效统计 -柱状图显示 -长度测量 -膜厚测量 -多方式图像处理 -超声波传输时间测量 -无损伤深度测量 -数字信号分析 -相位测量 -自动XYZ扫描 -自动存储仪器参数 -运用分层运算方法进行自动失效鉴别 -自动滤波参数设置 -换能器自动聚焦 -高分辨率下自动进行高速扫描
超声C扫描成像检测方法
界面波幅值成像01当复合板的内部或者结合面存在缺陷时,超声波到达复合层以及复合板底面的能量减少,界面波与底面回波的幅值下降,且缺陷越大,幅值下降越多。对采集到的复合板C扫描界面波或底面回波的幅值进行处理,即形成幅值成像。然而,旋转C扫描机构,由于爆焊复合板的特殊性(复层较薄、一次底波衰减较大等),其他的成像方式,如声速成像和衰减成像并不适用于此处。结合笔者单位目前的自动化探伤设备的固有参数,一次底波成像的效果远差于界面波幅值成像,因此确定采用界面波幅值成像的方式进行检测。扫查频率的确定02在进行C扫描成像前首先要确定扫查频率,确定扫查复合板的复层厚度后,根据复层厚度选择扫查频率。一般情况下,成像的效果与焊层界面回波的幅值成正比。复层厚度是探头频率选择的重要因素,旋转C扫描哪家好,以此方法对其他各厚度进行试验,结果表明,频率高于10MHz的探头对主要规格的钛/钢复合板均可实现高分辨率的超声C扫描成像。聚焦位置的确定03探头频率选定后,需要确定水浸探头的能量聚焦位置。成像效果与焊层界面回波的幅值成正比,且该聚焦位置对各种复层厚度的复合板均适用。通过比较发现,聚焦在结合层时,扫查到的回波幅值是很高的,且C扫描成像图更为清晰直观地展示了结合层处波纹的情况。因此,钛/钢爆焊接复合板C扫描成像的聚焦位置选定在基复层结合界面处。
C扫描腐蚀成像检测可选择以下两种扫查器
1、R型扫查器:(1)单轴手动编码器,使用方便。(2 )扫查架轻便小巧,探头组合方便更换。(3)可测量缺陷的自身高度,实现缺陷的跟踪、 监控。2、半自动扫查器:(1)方便驱动双轴自动扫查器,进行一定区域内的半自动扫查。(2)了探头保持架可对曲面进行一定量的跟踪功能。(3)B-扫描和B-扫描可以提供C-扫描图像上任何位置正交两个断面的深度信息。相应的A-扫描也可以显示在同一屏幕上。(4)全波形记录功能,可在生成的C-扫描图像上察看任意位置上的A-扫描波形。的检测方法,符合*新版的ASME规范要求。(5)定位定量准确。(6)B实时成像。(7)可实现任意一点的波形回放。