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- 2022-12-18 13:29:44
膜厚仪EDX-8000B型XRF镀层测厚仪
Simply The Best
gt;微光斑X 射线聚焦光学器件
通过将高亮度一次 X 射线照射到0.02mm的区域,XRF镀层测厚仪价格,实现高精度测量。
gt;硅漂移探测器 (SDD) 作为检测系统
高计数率硅漂移检测器可实现高精度测量。
gt;高分辨率样品观测系统
的点位测量功能有助于提高测量精度。
膜厚仪EDX8000B可分析的常见镀层材料
可测试重复镀层、非金属、轻金属、多层多元素以及有机物层的厚度及成分含量。
单涂镀层应用:如Cr/Fe, Ni/Fe, Ag/Cu,Zn/Fe等
多涂镀层应用:如Au/Ni/Cu, Ag/Pb/Zn,XRF镀层测厚仪厂家, Ni/Cu/Fe等
合金镀层应用:如ZnNi/Fe, ZnAl/Ni/Cu等
合金成分应用:如NiP/Fe, 同时分析镍磷含量和镀层厚度