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超声 C 扫描的基本原理

超声 C 扫检测本质上是在常规超声 A 扫检测基础上利用电子深度门记录反射回波信号，通过接收电路放大后在示波屏上显示，长材C扫描，当探头对工件进行整体扫查后，即可得到工件内部缺陷或界面的俯视图。C 扫图像可以直接反映工件内部与声束垂直方向上缺陷的二维形状与分布，通过不同的颜色标示缺陷的埋藏深度。

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C 扫描成像原理

比方100*100的一个矩形工件，用C扫描扫查，每1mm*1mm记录一个A扫描波形，长材C扫描公司，100*100需要记录10000个A扫描波形，根据这10000个A扫描波形的高低不同生成C扫描图像，这就是C扫描成像的原理，也是对C扫描成像原理形象的解释。

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无损探伤检测工业C扫描检测

（1）C扫描检测对铸件的检测具有很高的分辨率，是目前准确，可靠的无损评估方法之一；

（2）三维成像检测可以观察铸件内部缺陷的空间形状，实现任意截面密度和内部结构尺寸的测量，解决了两者的扫描断层方向和断层不连续性的局限性体层析成像。一种非常重要的计算机辅助评估方法。

（3）解决了与快速原型的接口问题，长材C扫描机构，从而实现了在逆向工程中的应用，缩短了航天模具的设计，产品开发和生产周期。

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