随州膜厚仪 景颐光电省事可靠 国产膜厚仪

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涂层膜厚仪常见故障

　　1、显示值不稳定

　　造成涂层膜厚仪显示值不稳定的原因，主要是来自工件本身材质和结构的特殊性，比如工件本身是否是磁性材料，如果是磁性材料，我们要选择一个磁性涂层测厚仪，如果工件是导体，我们不得不选择涂层测厚仪，工件的表面粗糙度和附着物也是仪表显示温度显示的原因，工件的表面粗糙度工件太大，表面附着物过多。排除故障的要点是对粗糙度比较大的工件进行抛光，去除附着物，然后选择合适的涂层测厚仪。

　　2、测量结果误差太大

　　涂层膜厚仪测量误差大的主要原因有：母材磁化、母材厚度太小、边缘效应、工件曲率太小、表面粗糙度过大、磁场干扰探头放置方法等。

　　3.没有数字

　　涂层膜厚仪不显示数字的简单原因是检查电池是否充满电。

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关于膜厚测量仪的介绍

景颐光电新款膜厚测量仪FILMTHICK-C100利用光干涉原理，机械结构集成的进口卤钨灯光源，使用寿命超过20000小时，紧凑设计保证了测量的高度准确性和可重复性。

通过内嵌式微处理器控制，小型光谱仪，光谱范围200NM -250ONM（波长范围根据配置选择)，分辨精度可达3648像素，随州膜厚仪价格，16位级A/D分辨精度。配有USB通讯接口。FILMTHICK对样品进行非接触式、无损、高精度测量，可测量反射率、颜色、膜厚等参数。

可应用于光伏、半导体材料、高分子材料等薄膜层的厚度测量，在半导体、太阳能、液晶面板和光学行业以及科研所和高校都得到广泛的应用。

OPTICAFILMTEST光学膜厚测量软件采用FFT傅里叶法、极值法、拟合法多种高精度算法，包含了类型丰富的材料折射率数据库，开放式材料数据库，有效地协助用户进行测试分析，测量期间能实时显示干涉、FFT波谱和膜厚等趋势。

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反射式膜厚测试仪

反射式膜厚测量仪可用于测量半导体镀膜，光学膜厚仪价格，手机触摸屏ITO等镀膜厚度，PET柔性涂布的胶厚等厚度，LED镀膜厚度，建筑玻璃镀膜厚度及其他需要测量膜厚的场合。SR可用于测量2纳米到3000微米的膜厚，测量精度达到0.1纳米。 在折射率未知的情况下，还可用于同时对折射率和膜厚进行测量。

此外，还可用于测量样品的颜色和反射率。样品光斑在1毫米以内。进行测量简单可靠，国产膜厚仪价格，实际测量采样时间低于1秒。

同时，客户还可以通过软件自带数据库对材料，菜单进行管理并回溯检查测量结果。目标应用：半导体镀膜，反射膜厚仪价格，光刻胶玻璃减反膜测量蓝宝石镀膜，光刻胶ITO 玻璃太阳能镀膜玻璃各种衬底上的各种膜厚，颜色测量卷对卷柔性涂布光学膜其他需要测量膜厚的场合

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