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- 发布时间
- 2023-01-02 12:54:11
1) PIL(Processer-In-Loops)处理器在环测试,目的是测试自动生成的代码写入控制器后,功能实现上是否与模型有偏差。PIL看似无关紧要,但不做重视也会引起一些不良后果(如调度问题、CPU Load,堆栈溢出等)
2) HIL(Harware-In-Loops)硬件在环测试,测试控制器完整系统功能,一般会搭建控制器所在系统的测试台架,汽车状态监测,使用电气元件模拟传感器(如温度)和执行器(如风扇负载)的电气特性,验证完整的系统功能。
模块试验分为DV试验和PV试验,分别为设计验证和生产验证。DV是验证零件设计是否满足要求,PV是验证零件供应商的生产是否满足设计要求,以及产线质量的稳定性。DV包括基本性能,高低温情况下,Margen发生器的气囊展开的到位时间。气袋的压力是否符合整车安全设定的目标,确保系统试验中假人的伤害值小。发生器压力测试等。针对成熟设计,环境耐久可以跟PV一起验证。