杭州光学薄膜厚仪 景颐光电欢迎来电 光学薄膜厚仪

光学薄膜厚仪———广州景颐光电科技有限公司是一家专门做膜厚仪的厂家

膜厚仪怎么测试路灯涂层厚度？随着技术的日益进步，光学薄膜厚仪价位，特别是近年来引入微机技术后，采用磁性法和涡流法的测厚仪向微型、智能、多功能、高精度、实用化的方向进了一步，测量的分辨率已达0.1微米，精度可达到1%，有了大幅度的提高。它适用范围广、量程宽、操作简单且价廉，是工业和科研使用常用的侧后一起。同时，该方法既不破坏路灯涂层也不破坏基材，检测速度快，能使大量的检测工作经济地进行。应用膜厚仪测量原理如下：

1、磁感应测量法（Fe基探头）

当侧头与覆盖层接触时，侧头和磁性金属基体构成一闭合磁路，由于非磁性覆盖层的存在，使磁路磁阻变化，通过测量其变化可导出覆盖层的厚度。

2、电涡流测量法（NFe基探头）

利用高频交变电流在线圈中产生一个电磁场，当测头与覆盖层接触时，金属基体上产生电涡流，并对测头中的线圈产生反馈作用，通过测量反馈作用的大小可导出覆盖层的厚度。

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膜厚测试仪

膜厚测试仪，分为手持式和台式二种，手持式又有磁感应镀层测厚仪，电涡流镀层测厚仪，荧光X射线仪镀层测厚仪。

手持式的磁感应原理时，利用从测头经过非铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通的大小，杭州光学薄膜厚仪，来测定覆层厚度。也可以测定与之对应的磁阻的大小，来表示其覆层厚度。

台式的荧光X射线膜厚测试仪，是通过一次X射线穿透金属元素样品时·产生低能量的光子，俗称为二次荧光，在通过计算二次荧光的能量来计算厚度值。

采用磁感应原理时，利用从测头经过非铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通的大小，来测定覆层厚度。也可以测定与之对应的磁阻的大小，来表示其覆层厚度。覆层越厚，则磁阻越大，磁通越小。

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关于膜厚测量仪的介绍

景颐光电新款膜厚测量仪FILMTHICK-C100利用光干涉原理，机械结构集成的进口卤钨灯光源，使用寿命超过20000小时，紧凑设计保证了测量的高度准确性和可重复性。

通过内嵌式微处理器控制，光学薄膜厚仪批发，小型光谱仪，光谱范围200NM -250ONM（波长范围根据配置选择)，分辨精度可达3648像素，16位级A/D分辨精度。配有USB通讯接口。FILMTHICK对样品进行非接触式、无损、高精度测量，可测量反射率、颜色、膜厚等参数。

可应用于光伏、半导体材料、高分子材料等薄膜层的厚度测量，在半导体、太阳能、液晶面板和光学行业以及科研所和高校都得到广泛的应用。

OPTICAFILMTEST光学膜厚测量软件采用FFT傅里叶法、极值法、拟合法多种高精度算法，光学薄膜厚仪哪家好，包含了类型丰富的材料折射率数据库，开放式材料数据库，有效地协助用户进行测试分析，测量期间能实时显示干涉、FFT波谱和膜厚等趋势。

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