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- 2023-01-03 13:22:56
XRD倒易空间（RSM）检测半导体XRD检测——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一，主要聚焦半导体产业发展的应用技术研究，兼顾重大技术应用的基础研究，从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究，以及行业应用技术开发。
变温测定结构相变
还有些样品在某温度存在结构相变，通常这种结构相变会伴随物理性质的变化，为了证实材料是否具有结构相变，以及分析相变前后结构的变化，我们就需要选择变温XRD测试，宁夏回族自治XRD倒易空间（RSM）检测，它是研究原位结构相变的得力工具。
研究单晶薄膜
另外一些做单晶薄膜（也叫外延薄膜）相关研究的同学，在测试样品的时候就需要使用高分辨XRD，高分辨XRD通常配有平行光、单色器、欧拉环等附件，可以用来分析薄膜的物相、外延关系(通过Phi扫描)、结晶质量(摇摆曲线)、薄膜面内晶格和应变情况（需要使用倒易空间图reciprocal space mapping）等。
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多尝试、详细记录单晶生长有很大偶然性。可采取少量样品多溶剂体系的办法反复尝试，提高成功的概率。例如，有 50 mg 样品，可以同时实验 5 种溶剂体系，每种溶剂体系尝试两次，每次 5 mg 。注意做好记录，以免重复采用已经失败的溶剂体系，而且单晶解析时往往需要知道所用的溶剂。
实验记录要详细。有时候测出晶体结构之后，还要收集更多晶体，以研究相关性能。如果实验记录不够详细，很可能造成晶体生长无法重复的后果。
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18.结晶度计算，热分析的结果和Jade分析结果有偏差，XRD倒易空间（RSM）检测哪家好，那个结果更加可信？
答：DSC测量结晶度的数据不太可靠，主要是由于材料的结晶度与其结晶过程的热历史关系非常紧密，是淬火、退火、抑或是别的过程，我们不得而知。而进行DSC操作时，一般我们首先要急速升温至其熔点以上以消除热历史，然后再进行等温结晶或者非等温结晶过程，这种过程无法描述真实的结晶过程。由于结晶过程存在松弛，XRD倒易空间（RSM）检测价格，因此升降温速率对于试验结果影响很大。XRD法通过计算机分峰，可以准确地测量出结晶度，而消除了热历史造成的试验误差。
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