PAUT PAUT 北京纳克无损

线阵探头相控阵超声检测

基于相控阵对声束的控制原理，采用模拟软件CIVA对聚焦声场进行模拟.通过改变探头单组激发晶片数目，频率和聚焦深度，分析三者之间的关系;结合人工缺陷的实际检测结果，PAUT报价，探讨聚焦与不聚焦检测的实施方法.试验表明，采用相控阵超声进行聚焦检测时存在焦点与声压位置的重合区和分离区，且合适的聚焦区域在近场区范围以内;不聚焦检测时应该根据缺陷的埋藏深度设置合理的单组激发晶片数目.以获得较好的检测效果.

双晶线阵腐蚀检测用超声相控阵探头的设计开发

根据腐蚀检测的应用需求，依靠多年的相控阵探头开发经验，PAUT价格，结合国外先进的解决方案理念，PAUT方案，设计开发了国产双晶线阵腐蚀检测相控阵探头，PAUT，并配合国产的相控阵检测系统，针对国内实际应用环境和需求，开发出应用软件.探头性能指标达到一定的水平，配合软件可以满足国内工业环境中的多种腐蚀检测需求，可以替代国外同类型产品，并更好地满足国内需求。

超声相控阵的角度补偿

传统工业相控阵定量方法不具有角度、声程、晶片增益修正技术，多晶片探头通过楔块入射到工件内部时存在入射点漂移现象和能量分布变化。采用单一入射点校准方式与常规距离-波幅曲线修正，造成的扇形扫查区域中能量分布不均匀及测量误差等问题未能有效解决，如图7 所示。而ISONIC-UPA 相控阵设备具有角度补偿功能，能有效地解决此类问题。

所谓角度补偿就是针对不同的聚焦法则，输入扇形扫查所需的角度范围及入射角度的增量后，晶片可以分别进行角度增益调整，也就是晶片角度增益修正。

有了角度增益补偿设置功能，可以取代传统的通过设置DAC曲线的方法来补偿增益变化。在ASME Case2557 标准中明确指出进行扇形扫描时要进行角度增益补偿。角度增益补偿曲线如图8所示，经过角度补偿后得到的等量化数据。

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