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英飞思XRF镀层测厚仪优势

gt;微光斑X 射线聚焦光学器件

通过将高亮度一次 X 射线照射到0.02mm的区域，实现高精度测量。

gt;硅漂移探测器 (SDD) 作为检测系统

高计数率硅漂移检测器可实现高精度测量。

gt;高分辨率样品观测系统

的点位测量功能有助于提高测量精度。

gt;全系列标配薄膜FP无标样分析法软件，可同时对多层镀层及全金镀层厚度和成分进行测量

配合用户友好的软件界面，微区膜厚仪价格，可以轻松地进行日常测量。

gt;镀铬，例如带有装饰性镀铬饰面的塑料制品

gt;钢上锌等防腐涂层

gt;电路板和柔性PCB上的涂层

gt;插头和电触点的接触面

gt;电镀液分析

gt;镀层，如金基上的铑材料分析

gt;电镀液分析

gt;分析电子和半导体行业的功能涂层

gt;分析硬质材料涂层，微区膜厚仪加工，例如 CrN、TiN 或 TiCN

gt;可拓展增加RoHS有害元素分析功能

声波在介质中传播遇到第二种介质时会被反射，测量超声波脉冲从发射至接收的间隔时间，即可将这间隔时间换算成厚度。在电力工业中应用的就是这类测厚仪。常用于测定锅炉锅筒、受热面管子、管道等的厚度，也用于校核工件结构尺寸等。这类测厚仪多是携带式的，微区膜厚仪哪里有，体积与小型半导体收音机相近，广西微区膜厚仪，厚度值的显示多是数字式的。对于钢材，测定厚度达2000 mm左右，精度在±0.01～±0.1 mm之间。



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