包装整箱温度冲击测试标准

    冷热冲击试验又名温度冲击试验或高低温冲击试验，是将试验样品交替暴露于低温和高温空气（或合适的惰性气体）中，使其经受温度快速变化的影响。用于考核产品对周围环境温度急剧变化的适应性，是装备设计定型的鉴定试验和批产阶段的例行试验中不可缺少的试验，在有些情况下也可以用于环境应力筛选试验。

    需要进行冷热冲击检测的产品：

    电子通信类：手机、射频器、电子通信元器件等，PCB、PCBA；

    电器类：家电、灯具、变电器等各类家电电器设备、仪器仪表、医疗器械；

    计算机类：电脑、显示屏、主机、电脑元器件、医疗设备等精密仪器等；

    道路交通类：道路车辆电子电气设备、轨道交通机车车辆设备与装置、汽车零部件等；

    其他：包装箱、运输设备等。

    测试参考标准：

    GB/T2423.22；

    IEC；

    IEC；

    EIA-364-32；

    MIL-STD-202；

    GJB150.5等。

    温度冲击试验的目的：

    1、工程研制阶段可用于发现产品的设计和工艺缺陷；

    2、产品定型或设计鉴定和批产阶段验收决策提供依据；

    3、作为环境应力筛选应用时，目的是剔除产品的早期故障。

    冷热冲击是航空、汽车、家电、科研等领域必备的测试项目，考核和确定电工、电子、汽车电器、材料等产品，在进行高低温试验的温度环境冲击变化后的参数、性能及使用的适应性，适用于学校，工厂，**，研位，电器等企业单位。