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- 发布时间
- 2023-04-02 00:40:32
无论在研发还是在生产制造中,工程师们在测试射频元件时都面临许多重大挑战。在研发过程中,更快并以较少的重复工作来解决设计难题至关重要。生产制造过程中,需要在保持精度和产出率的同时,缩短测试时间和降低测试成本。
减缓压力的方法之一是使用灵活的高度综合的测试解决方案――如Agilent N5242A PNA-X微波网络分析仪。由于PNA-X的先进体系结构,廊坊二手网络分析仪,它不仅提供的性能和精度,而且还能针对超越与网络分析仪相关的传统散射参数(S参数)的各种测量进行配置。一些内置组件(如第二个信号源和宽带合路器)能对射频和微波器件,尤其是放大器、混频器和变频器的非线性特性进行非常的表征,让您对这些器件的性能有更加的了解。
矢网的校准,是准确测量前的必要准备工作,二手网络分析仪出租,校准方法和步骤是矢网标准功能之一,按步骤连接一系列校准件(已知S参数的器件),二手网络分析仪服务商,使测试接口的幅相校准调零。在使用网络分析仪的过程中,有很多工程师都会存在一些误差,而这些误差有:漂移误差、随机误差、系统误差。这三种误差也是在测试过程中比较常见的误差情况。
系统误差是由于仪表内部测试装置的不理想引起的。它是可预知和重复出现的,一般情况下是不随时间变化的,从而可以定量进行描述,二手网络分析仪租赁,在测试之前可通过校准消除系统误差。
内部信号源也可用于测试频率转换器件如混频器或变频器,测试时除输入激励之外还需要LO信号。第二个信号源对扫描LO测试十分有用,在测试时LO信号连同射频输入信号一起被扫描,但保证RF信号和LO信号的频率差是固定的。这个方法常用于测量宽带变频器的前端元件。与使用外部信号发生器相比,使用从VNA内部信号源引出的信号作为LO信号在测试速度上有几位明显的改善(使用PNA-X的测试速度比传统方法的测试速度可5倍)。