低本底测量仪 中核控制 两路低本底测量仪公司

低本底

对低本底 α 谱仪的基本技术要求由于一般环境介质中的 α 放射性水平都很低，同时 α 粒子的射程又极短，因此要进行 α能谱分析需要满足以下几个基本要求：

（1）样品必须足够薄，以减少由样品自吸收使 α 谱软化而造成的“ 拖尾”，一般好保证样品厚度在 50 μg/cm2以下；

（2）样品的面积足够大，或者对样品中的待测核素进行足够的浓缩，以满足探测灵敏度的要求；

（3）避免在样品制备过程中有核素被丢失，或者被其他核素交叉污染；

（4）由于低水平测量的计数时间很长，因此要求探测系统具有足够高的探测效率和很好的长期工作稳定性。

低本底α、β测量仪的技术参数介绍

技术参数

1.对239Pu α标准源的2π探测效率≥85%时，本底≤0.08个计数cm-2h-1，典型值为 0.02个计数cm-2h-1。

2.对于90Sr-90Y β标准源2π探测效率≥40%时，本底≤0.08个计数cm-2min-1，典 型值为0.03个计数cm-2min-1。

3.混道性能：α进入β道的计数效率≤1%，β进入α道的计数效率为零。

4.稳定性：8h后，两路低本底测量仪公司，α效率变化在±≤5%；β效率变化在±≤10%范围内。

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低本底供应商简介

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