相控阵检测 相控阵检测 北京纳克无损

相控阵超声检测

相控阵检测可以同时拥有B扫、D扫、S扫和C扫描，可以通过建模，建立一个三维立体图形，相控阵检测价格，缺陷显示非常直观，哪怕不懂NDT的人都能看明白，而常规超声波只能通过波形来分辨缺陷。

超声相控阵可以检测复杂工件，比如可以检测涡轮叶片的叶根，常规超声波检测因为探头声束角度单一，相控阵检测机构，存在很大的盲区，造成漏检。而相控阵可以快速，直观的检测。

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基于相控阵对声束的控制原理，采用模拟软件CIVA对聚焦声场进行模拟.通过改变探头单组激发晶片数目，频率和聚焦深度，分析三者之间的关系;结合人工缺陷的实际检测结果，探讨聚焦与不聚焦检测的实施方法.试验表明，采用相控阵超声进行聚焦检测时存在焦点与声压位置的重合区和分离区，相控阵检测，且合适的聚焦区域在近场区范围以内;不聚焦检测时应该根据缺陷的埋藏深度设置合理的单组激发晶片数目.以获得较好的检测效果.

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动态深度扫描又称动态深度聚焦，超声声束沿阵元中轴线，对不同深度的焦点进行扫描。分为发射动态深度聚焦和接收动态深度聚焦：发射动态聚焦即在发射时以不同聚焦深度延迟对探头进行分别激发，声束焦点在空间中深度方向延伸；接收动态聚焦在发射时使用单个聚焦脉冲，通过接收时不同深度接收延迟对回波脉冲重新聚焦。右图为动态深度扫描示意图，以及普通扇形扫描成像和动态深度聚焦成像对比。

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