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- 发布时间
- 2023-04-16 12:58:15
无论在研发还是在生产制造中,工程师们在测试射频元件时都面临许多重大挑战。在研发过程中,更快并以较少的重复工作来解决设计难题至关重要。生产制造过程中,需要在保持精度和产出率的同时,缩短测试时间和降低测试成本。
减缓压力的方法之一是使用灵活的高度综合的测试解决方案――如Agilent N5242A PNA-X微波网络分析仪。由于PNA-X的先进体系结构,它不仅提供的性能和精度,而且还能针对超越与网络分析仪相关的传统散射参数(S参数)的各种测量进行配置。一些内置组件(如第二个信号源和宽带合路器)能对射频和微波器件,尤其是放大器、混频器和变频器的非线性特性进行非常的表征,让您对这些器件的性能有更加的了解。
网络分析仪内部功分器和定向耦合器分别完成对被测件输入信号和反射信号的提取。其中当要测试被测件某个端口反射特性时,必须将定向耦合器直接连接在该测试端口上。
这两部分统称为信号分离装置,这部分硬件也通常被测试为“测试座”,在一些特殊测试场合(大功率测试等)可不使用网络分析仪表一体化的内置测试座,而使用外置测试座设备。
电桥用于反射性能测试,电桥可覆盖很宽频率范围,电桥的主要缺点是对传输信号有较大损耗。因此对于给定的信号源功率。结果导致输入到被测件的功率损失。
定向耦合器负责分离反射测试中的激励信号和反射信号,这个功能也可由电桥完成,二手网络分析仪服务商,与定向耦合器相比,二手网络分析仪出售,电桥可覆盖更宽的频率范围,重庆二手网络分析仪,单其对测试的传输信号有较大损耗。
基于VNA的测试系统为测量无线通信和航空/系统中所使用的射频和微波元件提供了动力。与传统VNA相比,二手网络分析仪租赁,Agilent PNA-X微波网络分析仪的先进体系结构具有更大的灵活性,使工程师们可以通过一次连接便能测量各种各样的元件。PNA-X内主要的增加项是第二个信号源和内部宽带信号合路器,从而简化了放大器、混频器和变频器的测量。除S参数、压缩和谐波的传统单信号源测量之外,两个信号源还可用于IMD、相位随驱动的变化、热态S参数和真实激励模式的测试。PNA-X端口上信号源的高功率输出、低谐波和宽功率扫描范围的属性完全适应当前器件的测试要求。