αβ表面污染测量仪生产厂家 中核地质 河南αβ表面污染测量仪

表面污染测量方法

表面污染可以用直接测量、扫描测量和间接测量确定。 直接测量是用监测仪器进行，αβ表面污染测量仪生产厂家，可以测量固定污染，也可测量松散污染；测量时，以适当距离在待测对象的上方放置探测器，按预定时间间隔测量并记录读数。 扫描测量是用探测器在可能受到污染的表面上方进行移动测量，以确定受污染的区域或点位，在发现异常点位时再进行定位测量。 间接测量是用擦拭方法确定松散污染的水平。 对一些不能活动的固体或者贮存有液体的表面，或者有高本底影响，或者测量仪器不能靠近表面，直接测量是困难的，甚至是不可能的。此时只能采用间接测量方法。

表面污染的间接测量介绍

对于间接测量的擦拭样品，应该用很好屏蔽的固定测量装置进行测量。该装置应能测量低于规程限值的面活度。大多数设备能够探测活度低于0. 4 Bq的α 污染，或低于4 Bq的β污染。对于覆盖100 cm2的擦拭样品（隐含去除因子F=O.1），测量非固定α 污染的面活度浓度可小于0.04 Bq ?cm 2 ，河南αβ表面污染测量仪，对自发射体小于0. 4 Bq ?cm 2是可能的。

表面污染测量仪的刻度

为了准确测量总的表面活度，现场监测仪器必须经过适当刻度。 刻度源应选择其发射的 α或β辐射与现场污染物预期的辐射能量相似。 很有代表性的刻度源要用现场被评估的放射性材料制备。 例如，αβ表面污染测量仪供应商，铀系和牡系衰变图很复杂，发射 α，β和γ，仪器对每个单核素的刻度必需仔细评估，以确保探测器对这些衰变系的响应。

仪器的MDC取决于辐射的类型和能量，对其选择的核素要代表现场通常碰到的核素类型与能量范围。 这些核素对β是14 C，63 Ni，90 Sr，Y ，99 Tc 和204Tl，对 α 是230 Th 和239Pu。 一般讲，源有三种几何形状：“纽扣源” （类似点源，大约5 cm2），盘源，覆盖标准面积大约 15 cm2，或者分布源，典型面积范围从126到150 cm2 。

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