SLD具有高功率稳定性， 宽波长覆盖面的不相干宽带光源，包括650nm，680nm，750nm，800nm，830nm，950nm，980nm， 1050nm，1270nm，1300nm，蔡甸SLD光源，1480nm，1550nm，1580nm，和1620nm。为了满足特定的需求，Amonics的SLD可以同时被安置在台式机和紧凑的模块中。台式版本配备一个安全钥匙开关、界面友好的LCD显示屏、一个功率调节控制钮，同时在背面板配有RS232接口或以太网接口。连续光输出的同时，可实现1MHz的强度调制输出。OEM模块版本则是OEM系统集成商理想的构件，尤其是光学传感集成商及光学相干层析技术应用集成商
光学相干层析成像系统结合了低相干干涉和共焦显微测量的特点。系统选用的光源为宽带光源，SLD光源耦合设备，常用的是超辐射发光二极管(SLD)。光源发出的光经2×2耦合器分别通过样品臂和参考臂照射到样品和参考镜，两个光路中的反射光在耦合器中汇合，而两臂光程差只有在一个相干长度内才能发生干涉信号。同时由于系统的样品臂是一个共焦显微镜系统，SLD光源耦合封装，探测光束焦点处返回的光束具有的信号，可以排除焦点外的样品散射光的影响，这是OCT可以成像的原因之一。把干涉信号输出到探测器，信号的强度对应样品的反射强度，经过解调电路的处理，后由采集卡采集到计算机进行灰度成像。
宽带光源具有低相干性即可以获得较窄相干长度，保证轴向扫描的成像分辨率在微米级。对于窄带光源由于其相干长度很长，在相当大的光程差范围内都能输出干涉条纹变化。这样的干涉条纹对比度与两臂的光程差变化几乎无关，无法确定零级条纹的位置，则无法找到等光程点，失去了定位的功能。而对于宽带光源而言，只有当两臂的光程差在这个很短的相干长度之内时，探测器才能检测到干涉条纹的对比度变化。而且在对比度大的地方对应着等光程点，随着光程差的增加，对比度迅速锐减，SLD光源应用，因此具有很好的定位精度。于是可移动参考臂的反射扫描镜，来寻找变化后的平衡点，通过测量反射扫描镜的变化前后的位移即可测得相应的光纤传感器长度的变化。
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