精研一体机 Leica EM TXP

与观察体系合为一体

在显微镜下观察整个样品处理过程和目标区域   将样品固定在样品悬臂上，在样品处理过程中，通过立体显微镜可对样品进行实时观察，观察角度0°至60°可调，或者调至 -30°，则可通过目镜标尺进行距离测量。Leica EMTXP 还带有明亮的环形LED光源照明，以便获得**视觉观察效果。
> 对微小目标区域进行**定位和样品制备
> 通过立体显微镜实现原位观察
> 多功能化机械处理
> 自动化样品处理过程控制
> 可获得平如镜面的抛光效果
> LED 环形光源亮度可调，4分割区段可选

为微尺度制样而生

对毫米和微米尺度的微小目标进行定位、切割、研磨、抛光是一项具有挑战性的工作，主要困难来自：
> 目标太小，不容易观察
> **目标定位，或对目标进行角度校准很困难
> 研磨、抛光到指定目标位置常需花费大量人力和时间
> 微小目标极易丢失
> 样品尺寸小，难以操作，往往不得不镶嵌包埋

一体化显微观察及成像系统

Leica M80 立体显微镜
> 平行光路设计：通过中央主物镜形成平行光路，焦平面一致
> 高倍分辨率：所有变倍比下都有优质的图像质量和稳定的光强
> 人体工学设计：使用舒服的舒适度，无肌肉紧张感和疲劳感
Leica IC80 HD 高清摄像头*
> 无缝设计：安装在光学头和双目筒之间，无需添加显像管或光电管
> 高品质图像：与显微镜共轴光路确保图像质量及获得无反光图像
> 提供动态高清图像，连接或断开计算机均可使用
4 分割区段亮度可调 LED 环形光源
> 不同角度照明显露样品微小细节

多种方式制备处理样品

样品无需转移，只需切换工具
不需要来回转移样品，只需要简单地更换处理样品的工具就可完成样品处理过程，并且样品处理全过程都可通过显微镜进行实时观察。出于安全考虑，工具和样品所在的工作室带有一个透明的安全罩，可避免在样品处理过程中操作者不小心触碰到运转部件，又可防止碎屑飞溅。
LEICA EM TXP可对样品进行如下处理：
> 铣削
> 切割
> 研磨
> 抛光
> 冲钻