JIMA RT RC-05 分辨率测试卡

JIMA RT RC-05 X射线分辨率测试卡

测试卡封装在一个防护盒中

盒子的外形尺寸（W×D×T）：40×30×3mm

芯片尺寸（W×D×T）：8×8×0.2mm

图案布局：T型 （3-10μm）

I 型 （15-50μm）

线/空间尺寸：16种规格图案,

3μm,4μm,5μm,6μm,7μm,9μm,10μm （T型）

15μm,20μm,25μm,30μm,35μm,40μm,45μm,50μm (I 型)

JIMA（日本检测仪器制造商协会），致力于关注各种检测仪器，其中包括无损检测仪器，用于测量X射线系统的分辨率，以保证X射线系统在微米和纳米焦点的图像质量。