JIMA RT RC-05B 分辨率测试卡

一、JIMA RT RC-05B详细介绍：

JIMA RT RC-05B是一款采用新半导体光刻技术制作的微型分辨率测试卡。它用于校准和监控系统分辨率，确保微焦点或纳米焦点X射线检测系统获得高质量的结果。

JIMA RT RC-05B支持3微米至50微米（3 µ m至50 µ m）的分辨率。这对应于6微米和100微米（6 µ m和100 µ m）之间的焦斑尺寸。

二、应用：

·  修复 X 射线系统操纵器上的分辨率测试。

·  选择探测器、样品和试管的距离，以实现高几何放大倍率。

·  选择所需的 X 射线参数。

·  将分辨率测试放置在管的前面，使线条图案可见。

·  使用操纵器移动测试图，以便看到下一个较小的线对束。

·  只要线条清晰可见，就继续。焦点大小近似计算为小分辨率乘以 2。

注意：尽量减少辐射的持续时间。在手术过程中关闭 X 射线。目标前面的热量可能会损坏测试图。