电子元器件失效分析检测机构

电子元器件失效分析： 斑点、集成电路、微波器件、继电器和连接器等。

电子元器件失效分析检测周期：7-10个工作日(参考周期、可加急)

电子元器件失效分析检测标准（部分）

1、 GJB 8897-2017 军用电子元器件失效分析要求与方法

2、 T/CIE 115-2021 电子元器件失效机理、模式及影响分析（FMMEA）通用方法和程序

3、 QJ 1317-1987 电子元器件失效分类及代码

4、 QJ 1317A-2005 电子元器件失效分类及代码

5、 QJ 3065.5-1998 元器件失效分析管理要求

6、 GB/T 1772-1979 电子元器件失效率试验方法

7、 JIS C 5003:1974 电子元器件失效率的通用试验程序

8、 VDI 3822 Blatt 2.1.10-2012 失效分析 塑料制品失效分析的重要仪器分析方法

电子元器件失效分析检测范围

电感、电阻、电容、器件/模块失效、二极管、三极管、LED灯、DIP封装芯片、PGA封装芯片等。

电子元器件失效分析检测项目

外观质量、失效分析、工业问题诊断、可靠性测试、耐久性、加速老化测试、常规检测、第三方检测、现场检测等。（具体以客户实际情况为准）

电子元器件失效分析检测流程

1、联系客服、沟通检测需求；

2、根据实际情况确定样品递送流程、上门取样、送样、邮寄样品；

3、对样品进行初步、获取样品的特性以及相关指标；

4、根据客户的需求、根据检测经验及标准方法、定制试验方案；

5、进行试验、得到试验数据、出具测试报告；

6、完善的售后服务、可随时咨询；

上海复达检测是法定第三方检测机构、具有CMA、CNAS等资质、电子元器件失效分析检测服务面向全国、包含上海、北京、天津、沈阳、济南、南京、苏州、杭州、宁波、合肥、郑州、武汉、长沙、广州、深圳、成都、西安等地区。