DDR测试,DDR上电时序测试,内存信号测试,眼图测试,对外信号完整性实验室
4，速据信号的波形和时序参数：DQS（源同步时钟）和DQ（数据）波形参数与命令地址测试类似，测试起来比较简单，但是探测却比较复杂和困难。DDR1，DQS是单端信号，可以用单端测试，DDR2&3 DQS则是差分信号，建议用差分测试，减小探测难度。DQS和DQ的时序关系，即相对的在不同操作条件下的建立时间和保持时间关系则非常复杂，分析比较困难，图4是实际捕获的DDR2 533 DQS和DQ的波形。从图中可以看出DQS和DQ的三态（Tri-state）特征，读数据（Read Burst）和写数据（Write Burst）的DQS和DQ的相对时序特征。在我们测试时，只是捕获了这样的波形，然后测试出在“读”“写”操作时的建立时间和保持时间参数是不够的，因为数据码型是变化的，猝发长度也是变化的，只测了几个时序参数很难覆盖各种情况，更难测出差情况。很多工程师花了一周去测试DDR，仍然测不出问题的关键点就在此处。因此我们应该用眼图的方式去测试DDR的读写时序，确保反映整体时序情况和捕获差情况下的波形，好能够套用串行数据的分析方法，调用模板帮助判断。
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