HAST测试高加速老化试验箱

HAST测试高加速老化试验箱

HAST高度加速老化试验箱是一种用于模拟高温高湿环境下产品老化的测试设备。

HAST测试高加速老化试验箱是英文Highly Accelerated Stress Test（高度加速应力测试）的缩写，试验箱利用高温高湿的环境，加速产品老化过程，以便更快地了解产品在长期使用中可能出现的问题，从而指导产品设计和改进。

HAST试验箱通常用于电子、光电、化工、汽车、航空航天等领域的产品测试。

HAST测试高加速老化试验箱：   （HAST测试机 HAST测试仪 HAST老化测试仪 HAST加速老化测试设备）

HAST测试机试验的目的是提高环境应力(如：温度)与工作应力(施加给产品的电压、负荷等)，加快试验过程，缩短产品或系统的寿命试验时间。

用于调查分析何时出现电子元器件和机械零件的摩耗和使用寿命的问题，使用寿命的故障分布函数呈什么样的形状，以及分析失效率上升的原因所进行的试验。 

随着半导体可靠性的提高，目前大多半导体器件能承受长期的THB试验而不会产生失效，因此用来确定成品质量的测试时间也 相应增加了许多。为了提高试验效率、减少试验时间，采用了新的压力蒸煮锅试验方法。

HAST测试高加速老化试验箱 HAST设备特点：

新优化设计，美观大方，做工精细。
对应IEC条件，具有直接测量箱内温湿度的干、湿球温度传感器。
采用真彩式触摸屏，具有USB曲线数据下载功能，RS-485通讯接口
采用高效真空泵，使箱内达到佳纯净饱和蒸汽状态。
具有缓降压、排气、排水功能，控制避免试验结束后压力温度的急变，保证试验结果的正确。
多项安全保护措施,故障报警显示及故障原因和排除方法功能显示。
HAST测试机可根据客户产品定制专用产品架