武汉工业CT无损扫描检测-CNAS/CMA实验室

在电子电气产品的质量检测领域，工业 CT 无损扫描检测正发挥着日益重要的作用。

工业 CT 无损扫描检测的原理基于 X 射线的穿透特性。当 X 射线穿透电子电气产品时，由于产品内部不同结构和材料对 X 射线的吸收和衰减程度不同，探测器会接收到不同强度的 X 射线信号。

这些信号被传输到计算机系统，经过复杂的算法重建，就能得到产品内部结构的三维图像。这一过程如同对产品进行了一个非侵入性的 “解剖”，可以清晰地显示出产品内部的各种细节，如电

路板上的微小元件、焊接点、内部线路走向以及封装结构内部的情况等，而且不会对产品造成任何损坏。

目前，电子电气产品的工业 CT 检测并没有一个统一的特定标准号，但在实际操作中会参考相关的行业规范和质量标准，如一些电子行业对于产品内部结构完整性、元件装配准确性等方面的通

用要求。

测试流程大致如下：首先，根据电子电气产品的类型、尺寸和检测需求，选择合适的工业 CT 设备。然后，将产品小心放置在 CT 设备的扫描区域内，确保其位置稳定且不会影响扫描结果。启动

扫描程序后，X 射线源开始发射 X 射线，对产品进行全方位的扫描。在扫描过程中，探测器持续采集数据。扫描完成后，计算机系统对采集到的数据进行处理和重建，生成产品内部结构的三维图

像。技术人员可以通过专业的图像分析软件，从不同角度观察产品内部结构，检测是否存在缺陷，如元件损坏、短路、虚焊、内部异物等情况。

所需设备主要包括工业 CT 扫描仪、计算机系统以及图像分析软件。工业 CT 扫描仪由 X 射线源、探测器和机械运动系统等部分组成。X 射线源负责产生稳定且能量合适的 X 射线；探测器需要具

备高灵敏度和高分辨率，以准确接收 X 射线信号；机械运动系统则要能够**地控制产品的扫描角度和位置。计算机系统要有足够的运算能力来处理大量的扫描数据，图像分析软件应具备丰富的

功能，如三维可视化、测量工具等，方便技术人员对检测结果进行分析。

工业 CT 无损扫描检测为电子电气产品的质量控制提供了一种先进、可靠的检测手段，有助于提高产品质量和可靠性，降低生产过程中的次品率。