GDS-80L型晶振阻抗测试仪

在电子制造与研发领域，测量晶振的各项参数对于确保产品性能至关重要。智慧源推出的晶振阻抗测试仪GDS-80L，以其卓越的性能和全面的功能，成为了行业内的佼佼者。

GDS-80L拥有10KHz-200KHz的宽频测试范围，能够轻松覆盖各类晶振的工作频率。无论是低频还是高频晶振，都能实现高精度的测量，为产品研发与质量控制提供可靠的数据支持。

该仪器采用先进的测试技术，可对串联谐振频率、负载谐振频率、等效电阻、负载电容、动态电容、动态电感、品质因数以及频率牵引力等关键参数进行**测量。其中，串联谐振频率的测量精度可达±5ppm，负载谐振频率的测量精度同样高达±5ppm+时基+0.5Pf*频率牵引力Ts，能够准确反映晶振的真实特性，帮助工程师深入分析晶振的性能表现。

在操作方面，GDS-80L设计简洁直观，易于上手。用户可以通过便捷的操作界面快速设置测试参数，启动测试过程，并实时获取详细的测试结果。同时，它还支持上位机软件通信功能，方便用户对测试数据进行进一步的处理和分析，提高工作效率。

不仅如此，GDS-80L还具备超值报警功能，可在测试过程中实时监测晶振参数是否超出设定范围，一旦发现异常情况，立即发出警报，提醒用户及时采取措施，有效避免因晶振故障导致的产品问题。

其小巧的尺寸（250280150mm）使得它不会占用过多的工作空间，便于放置在各种测试环境中，无论是实验室还是生产线上，都能轻松融入其中，为晶振测试提供便利。

***智慧源晶振阻抗测试仪GDS-80L凭借其的测量能力、丰富的功能配置以及人性化的设计，成为电子行业人士在晶振测试领域的得力助手。如果您正在寻找一款高品质、高性能的晶振阻抗测试仪，那么GDS-80L无疑是您的佳选择。