晶振测试仪GDS-327晶振频率测试仪

一、产品概述

晶振测试仪 GDS-327 是一款高精度的晶振测试设备，专为满足电子行业中对晶振频率特性的**测量需求而设计。该仪器采用先进的 π 型网络零相位法，实现高精度的测量，符合 IEC-444 标准。其测试频率范围为 32.768KHz，能够对晶振的多种关键参数进行全面、准确的测试，包括串联谐振频率、负载谐振频率、等效电阻、负载电阻、负载电容、动态电容、动态电感、品质因数和频率牵引力等。广泛应用于晶体行业、邮电、通信、广播电视、学校、研究所及工矿企业等生产和科研领域。

二、核心优势（一）高精度测量

GDS-327 采用高稳定度石英晶体振荡器作为时间基准，结合先进的 FPGA 技术和单片机整合控制，实现高精度的时间间隔测量，测量误差小，确保检定结果的准确性。其测量精度可达 ±0.01ppm，频率范围为 32.768KHz，能够满足不同类型的晶振测试需求。

（二）多参数同步测量

能够同步测量谐振频率（串联谐振频率 Fs、负载谐振频率 Fl）、阻抗特性（等效电阻 R1、负载电阻 RL、负载电容 CL）、动态性能（动态电容 C1、动态电感 L1、品质因数 Q 值、频率牵引力 TS）等九大参数。为用户提供全面的晶振性能评估，帮助用户准确判断晶振的质量和性能。

（三）智能抗干扰设计

采用多级数字滤波技术，复杂工况下测试稳定性提升 80%；全金属屏蔽机身，通过 EMC Class B 认证，无惧电磁干扰。确保在各种环境下都能稳定工作，提供可靠的测量结果。

（四）便捷操作与高效检测

配备大屏幕液晶显示和触摸屏操作界面，界面友好，操作简便。用户只需连接设备、选择测试模式，仪器即可自动完成测试过程，大大提高了工作效率。此外，0.5 秒 / 次的瞬时测量速度，8 通道并行检测，产能提升显著。

（五）全场景适配

宽温工作范围（-30℃~70℃），满足工业车间及实验室环境。可选配自动探针台，无缝对接 SMD 晶振产线检测，适应不同场景下的检测需求。

三、技术参数项目规格

测试频率范围	32.768KHz
频率精度	±0.01ppm
等效电阻（ESR）范围	0.1Ω-100kΩ
负载电容（CL）范围	1pF-1μF
动态电容（C1）分辨率	0.01pF
品质因数（Q 值）范围
数据存储容量	1000 组（支持扩展）
通讯接口	USB/RS-232/Wi-Fi（可选）

四、使用说明（一）开机准备

将晶振测试仪 GDS-327 连接电源，开机后等待设备自检完成，确保设备处于正常工作状态。

（二）连接晶振

根据被测晶振的类型和测试需求，将晶振正确连接到仪器的测试端口。仪器可适配不同封装的晶振，包括 SMD 封装（如 3225/5032 等）、插件晶振（如 HC-49/U/S）等。

（三）参数设置

在仪器的操作界面上，根据具体的测试要求设置相应的参数，如测试频率、负载电容等。仪器具备智能分析系统，可自动识别并适应不同的测量需求。

（四）开始测量

确认各项设置无误后，点击 “开始测量” 按钮，仪器将自动进行测量，并在屏幕上显示测量结果。测量过程中，仪器会实时采集数据，并进行分析处理。

（五）数据读取与保存

测量完成后，用户可以在仪器的屏幕上查看测量结果，包括串联谐振频率、负载谐振频率、等效电阻、负载电阻、负载电容、动态电容、动态电感、品质因数、频率牵引力等参数。通过 USB 或 RS-232 接口，可将测量数据上传至电脑进行数据管理和分析。

五、市场推广（一）价格优势

GDS-327 的参考价为 12800 元 / 台，具体成交价以合同协议为准。相比同类产品，GDS-327 在价格上具有一定的竞争力，能够满足不同用户的需求。

（二）应用场景广泛

GDS-327 广泛应用于电子制造、研发支持、品质管控和教育培训等领域。无论是电子元器件生产厂家、计量机构还是科研机构，都能从这款设备中受益，提升产品质量和工作效率。

（三）售后服务完善

智慧源提供完善的售后服务，包括 7×12 小时在线技术咨询、免费操作培训与定期固件升级、全国联保等，确保用户在使用过程中遇到的问题能够及时得到解决。

智慧源 GDS-327 晶振频率测试仪以其高精度、多功能和智能化的特点，为晶振测试提供了全面的解决方案。无论是提升产线效率，还是保障产品品质，GDS-327 均为您的理想选择。立即联系智慧源，获取专属测试解决方案！