IGBT热循环负载试验台

通过我们自己研发的各种产品，比如像半导体器件测试仪，加快了半导体各类材料、半导体器件和工艺的开发，完成制程控制、性分析和故障分析；诸如IGBT静态参数测试系统、IGBT动态参数测试系统，它们可以满足对IGBT的大电流、高电压的测试要求，是检测半导体器件的关键设备；还有像雪崩能量测试仪、晶闸管电参数测试仪、二管电参数测试仪、功率模块性测试仪、模块高温阻断试验设备等产品，做的也是相当的出彩，这就是我对我们的产品十分的有信心，这就是我们团队所有的力量。质量是企业长远生存的根基，是企业竞争的免死jinpai，质量在心中，责任在肩上，诚信在言行中，相信我们标准，控在品质！

测试设备:针对IGBT的静态参数而研发的智能测试系统，自动快速测试可以满足用户大生产需要，故障率低，也保证了用户的生产效率，使用简洁方便。

业务为半导体功率器件测试设主要有：

静态参数测试（包括IGSS / BVR / VDS（Sat） / IDSS / VGSTH / VF / RDS（on））；动态参数（开通关断/反向恢复/短路/工作区）测试（包括Turn_on&off / / Qg / Rg / UIS / SC / RBSOA 等）；雪崩能力测试，老化及性测试（HTRB / HTGB）。

静态参数测试（包括IGE / VGE(th) / VCEsat / VF / ICE / VCE）；动态参数（开通关断/反向恢复/短路/工作区）测试（包括Turn_on&off / / Qg / Rg / UIS / SC / RBSOA 等）；老化及性测试（HTRB / HTGB）。

静态参数测试（包括IGT/VGT / IH / VTM / VD/ID / VR/IR / dv/dt / IL ）；动态参数测试（Turn_on&off / ）；浪涌参数测试ITSM；di/dt测试；老化及性测试（高温阻断）；热阻参数测试Rth。