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- 九域半导体科技（苏州）有限公司
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- 发布时间
- 2026-04-12 11:36:48
少数载流子寿命少数载流子寿命少子寿命
载流子寿命就是指非平衡载流子的寿命。而非平衡载流子一般也就是非平衡少数载流子（因为只有少数载流子才能注入到半导体内部、并积累起来，多数载流子即使注入进去后也就通过库仑作用而很快地消失了），所以非平衡载流子寿命也就是指非平衡少数载流子寿命，即少数载流子寿命。
少子寿命测试仪性能参数：
1. 测量原理：QSSPC（准稳态光电导）；
2. 少子寿命测量范围：100 ns-10 ms；
3. 测试模式：QSSPC，瞬态，寿命归一化分析；
4. 电阻率测量范围：3–600 (undoped) Ohms/sq.；
5. 注入范围：1013-1016cm-3；
6. 感测器范围：直径40-mm；
7. 测量样品规格：标准直径: 40–210 mm （或更小尺寸）；
8. 硅片厚度范围：10–2000 μm；
9. 外界环境温度：20°C–25°C；
10. 功率要求：测试仪： 40 W ， 电脑控制器：200W ，光源：60W；
11. 通用电源电压：100–240 VAC 50/60 Hz；