冲击试样缺口投影仪CST-50

1. 用途：检测夏比 V/U 型冲击试样缺口尺寸、圆弧、角度，判定试样加工是否符合 GB/T229 标准，不合格试样禁止试验。2. 参数：光学放大 50 倍，内置标准缺口对比刻度板，LED 冷光源，成像清晰无发热。3. 结构：机身、投影光学系统、工作台、调焦旋钮、刻度基准片。4. 特点：操作简单，测量直观，快速筛查缺口毛刺、圆弧超标、角度偏差等加工缺陷。5. 使用：放置试样调清图像，与标准刻度比对尺寸，检测完毕清理工作台。