Panametrics 35系列的特性
•所有型号的标准配置均包含声速和减缩率测量。
•可测厚度范围宽：0.08 mm～635.0 mm(0.0030 in.～25.0 in.)，取决于仪器和材料。
•采用接触式、延迟线式、水浸式探头。
•自动调用功能可调用默认设置和自定义设置。
•手持式，仅重0.24公斤(8.5盎司)。
•最小/最大模式
•高-低报警
•英制和公制显示(英寸或毫米)
•多种语言用户界面
•长效电池
Panametrics 35型和35DL型
在大多数应用中都可应用35型和35DL型
35型和35DL型测厚仪使用频率范围为2.25～30 MHz的探头，因此这些通用型测厚仪可完成大多数从极薄到极厚材料的厚度测厚。一般来说，探头频率越高而直径越小，对较薄或弯曲的工件测量的精度越高。
应用
•从薄到厚的大多数材料
•薄如0.08毫米(0.003英寸)的塑料瓶、管件、管道、及板材
•薄如0.10毫米(0.004英寸)的金属容器、钢卷材及机加工部件
•汽缸孔、涡轮叶片
•玻璃灯泡、瓶子
•薄玻璃纤维、橡胶、陶瓷及复合材料
•半径较小的曲面部分或容器
•分辨率可达0.001毫米或0.0001英寸
35型、35DL型、35HP型和35DL-HP型技术规格
测量
模式1： 使用接触式探头，测量在激励脉冲和第一个底面回波之间的时间间隔。
模式2： 使用延迟线式或水浸式探头时，测量在激励脉冲后的第一个界面回波和第一个底面回波之间的时间间隔。
模式3： 使用延迟线式或水浸式探头，测量在激励脉冲之后，位于第一个界面回波后的相邻底面回波之间的时间间隔。
测量类型：厚度、声速、渡越时间。
厚度测量范围*：0.08毫米～635毫米(0.003英寸～25英寸)
*厚度范围因型号、材料、探头种类、表面条件和所选设置的不同而不同。
材料声速范围：0.5080毫米/微秒～18.699毫米/微秒
(0.02000英寸/微秒～0.7362英寸/微秒)
分辨率(通过键区可选)：
低： 0.1 mm (0.01 in.)
标准： 0.01 mm (0.001 in.)
高： 0.001 mm (0.0001 in.)
标准附件
手腕带、3节AA电池、试块、探头线缆、耦合剂、便携箱、指导手册、两年有限保修。