镀层测厚仪 X-Strata920系列
镀层测厚仪X-Strata920系列，属于X射线荧光镀层厚度测量仪，广泛应用于PCB、FPC、LED、SMT、连接器、端子、五金产品、汽车零部件、卫浴洁具、珠宝等行业的表面镀层厚度测量、材料分析；是各类电镀产品镀层厚度测量的理想检测工具。
镀层测厚仪X-Strata920系列具有高性价价比，有着非破坏、非接触、多合金测量、测量元素范围广、测量精准、测量时间短等特点；具有高生产力、高再现性，能有效控制产品质量，节约电镀成本。
镀层测厚仪X-Strata920工作特点：
l 测量精度高、稳定性好，测量结果精确至μin
l 快速无损测量，测量时间短，10秒内得出测量结果
l 可定性、半定量和定量分析
l 进行贵金属检测，如Au karat评价
l 材料鉴别和分类检测，材料和合金元素分析，元素光谱定性分析
l 强大的数据统计、处理功能：平均值、标准偏差、相对标准偏差、最大值、最小值、数据变动范围、数据编号、CP、CPK、控制上限图、控制下限图，数据分组、X-bar/R图表、直方图
l 结果输出：直接打印或一键导出到PDF、Excel文件；报告包含数据、图像、统计图表、客户信息等
l 测量位置预览功能；高分辨率彩色CCD样品观察系统，标准光学放大倍数为30倍
l 激光对焦和自动对焦功能；单击鼠标，Z轴自动扫描，镭射聚焦
仪器参数
型号
P920-S
P920-MWS
P920-MWM
P920-AM
名称
半自动
自动台
固定台
单准直器加深台
多准直器加深台
样品图片
测量元素范围
Ti22---U92
镀层和成分分析
l 镀层：最多同时测定5层（4层镀层+基体材料）镀层
l 成分：最多同时测量25种元素
测量方法
l SmartLinkâFP（基本参数法）
l 仪器预装超过800种应用参数/方法
l 简单直观步骤建立应用
X射线激发
l 50kV、1.0mA(50W)
l 空冷式微聚焦W靶X射线管，Be窗
l 垂直下照式X射线光学系统
l 安全防射线光闸
l 二次滤波组件，可选三个程控交换的滤波器，有效于X射线重叠谱的修正
成像系统
l 彩色视频系统
l 光学放大：30倍，可选项50倍
l 数字放大200%
l 激光自动对焦
l 被测样品图像实时显示功能
计算机系统
l Intel Core i3-3240 3.40GHz，内存2G，硬盘500G，DVD光驱
l 17吋液晶彩色显示器
l MicrosoftTM Win7 32bit
样品台规格
l 测量样品高度≤33mm
l 测量样品高度≤160mm
l 样品仓内部尺寸（宽×深×高）