产品特点
1、光学系统采用艾伯特垂直对称形式装置，慧差及象散可矫正到理想程度，在较长谱面范围内谱线清晰，结构均匀。
2、仪器采用三透镜消色差照明方法，狭缝得到均匀照明，使同一条谱线黑度均匀。
3、仪器缝前的哈特曼光栏盘上设置哈特曼及三阶，九阶减光板。
4、使用控制箱控制摄谱过程。
5、仪器配备直流电弧，交流电弧光源，以适应不同分析任务的需要。
6、仪器配置工作台，安装和操作方便。
产品用途
1、WP1型平面光栅摄谱仪是在200nm-800nm波段范围内作发射光谱分析的仪器。
2、广泛地应用于地质、冶金、机械、石油化工等部门作光谱定量和定性分析。
性能参数
光栅线数
1200条/mm
1200条/mm
有效面积 50x30mm 50x30mm
闪耀波长 300nm 570mm
色散（nm/mm） 一级0.8 一级0.8 二级0.4
理论分辨本领 6x10E4 6x10E4 12x10E4
适用工作波段 200nm--600nm 400nm--800nm 200nm--400nm