NanoMap-PS是一款专门为nm级薄膜测量研发的无需防震台即可测量的接触式台阶仪
厚度47nm宽度50um光栅标准样品,三次重复测量结果(无任何数据修正，原始数据输出）
采用与AFM相同的位移传感器测量和超低噪扫描驱动器。
提供了二维分析、表面纹理分析、粗糙度分析、波度分析、PSD分析、角度计算、曲率计算、模拟一维分析、数据输出、数据自动动态存储、自定义数据显示格式等。综合绘图软件可以采集、分析、处理和可视化数据。表面统计的计算包括峰值和谷值分析。基于傅立叶变换的空间过滤工具使得高通、低通、通频带和带阻能滤波器变的容易。多项式配置、数据配置、扫描、屏蔽和插值。交互缩放。X-Y和线段剖面。三维线路、混合和固定绘图。用于阶越高度测量的地区差异绘图。
该款接触式台阶仪可以应用在金属材料、生物材料、聚合物材料、陶瓷材料等各种材料表面的薄膜厚度，台阶高度，二维粗糙度（Ra,Rq,Rmax...），划痕截面面积，磨损深度，薄膜应力（曲定量率半径法）等定量测量。将轮廓仪带入了另一个高精度测量的新时代。
测量表面可以覆盖90%以上材料表面，对于生物材料，聚合物，光刻胶等“柔软表面”也可测量无须担心划伤或破坏。设备传感器精度高，稳定性好，材料应用面广。热噪声是同类产品最低的。垂直分辨率可达0.1nm 。 可测跨学科、跨领域的各种样品表面，包括透明、金属材料，半透明、高漫反射，低反射率、抛光、粗糙材料(金属、玻璃、木头、合成材料、光学材料、塑料、涂层、涂料、漆、纸、皮肤、头发、牙齿)；
AEP的技术致力于日新月异的改善产品性能参数。 欲了解最新的配置和性能，请与我们联系。
参数性能 :
探针 2um 曲率半径（0.05um 到 25um 可选）
：+86-0
传真：+86-0
公司网址：www.aeptechnolongy.com.cn
关键词：轮廓仪、形貌仪、磨损体积测量仪、台阶仪、薄膜测厚仪、三维表面轮廓仪、三维轮廓仪、白光干涉仪、三维台阶仪、三维薄膜分析仪、三维形貌仪、三维粗糙度仪、表面轮廓仪、表面台阶仪、薄膜分析仪、表面形貌仪、表面粗糙度仪、非接触式轮廓仪、非接触式台阶仪、非接触式表面形貌仪、非接触式表面粗糙度仪、接触式轮廓仪、接触式台阶仪、接触式表面形貌仪、接触式表面粗糙度仪、探针式轮廓仪、探针式台阶仪、探针式表面形貌仪、探针式表面粗糙度仪、双模式轮廓仪、双模式台阶仪、双模式表面形貌仪、双模式表面粗糙度仪、三维表面轮廓仪、三维表面台阶仪、三维表面形貌仪、三维表